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Foto Bergmann

Herr
Prof. Dr. Ralf B. Bergmann

Fachbereich 01
Physik/Elektrotechnik Physik/Elektrotechnik

E-Mail: bergmann@bias.de

Zugehörigkeiten | Forschungsthemen | Kooperationen | Projekte | Wissenschaftliche AktivitĂ€ten | Ressourcen


Zugehörigkeiten

Zugehörigkeit zu einem Wissenschaftsschwerpunkt der UniversitÀt Bremen
» Materialwissenschaften und ihre Technologien


Zugehörigkeit zu einem außer-universitĂ€ren Institut
» Bremer Institut fĂŒr angewandte Strahltechnik - BIAS


Zugehörigkeit zur Arbeitsgruppe/zur Professur
KĂŒrzel Bezeichnung deutsch Bezeichnung englisch Fachbereich Schlagwörter deutsch Schlagwörter englisch
FB 01      FB01     




Forschungsthemen
Naturwissenschaften
» Optik, Quantenoptik und Physik der Atome, MolekĂŒle und Plasmen
Ingenieurwissenschaften
» Materialwissenschaften
» Systemtechnik


Kooperationen

WissenschaftlerInnen mit Kooperation
Institution Stadt Kategorie Herkunftsland
Prof. A. Fischer, Prof. G. Goch, BIMAQ, UniversitÀt Bremen Bremen UniversitÀt Deutschland Deutschland
Dr. G. Ehret, PTB, Braunschweig Braunschweig UniversitÀt Deutschland Deutschland
Prof. M. Koch, UniversitÀt Marburg Marburg UniversitÀt Deutschland Deutschland
Dr. O. Riemer, LFM, UniversitÀt Bremen Bremen Leibniz-Gemeinschaft Deutschland
Prof. K. Schill, KN, UniversitÀt Bremen Bremen UniversitÀt Deutschland Deutschland
Prof. M. Beetz, AI, UniversitÀt Bremen Bremen UniversitÀt Deutschland Deutschland
Prof. B. Rosenhahn, TNT, UniversitÀt Hannover Hannover Leibniz-Gemeinschaft Deutschland
Prof. M. Freitag, Dr. M. LĂŒtjen, BIBA, UniversitĂ€t Bremen Bremen UniversitĂ€t Deutschland Deutschland
Prof. M. GĂŒnther, MR, UniversitĂ€t Bremen Bremen Fraunhofer-Gesellschaft Deutschland
Prof. E. King, Prof. P. Maaß, Dr. I. Piotrowska-Kurczewski, ZeTeM, UniversitĂ€t Bremen Bremen UniversitĂ€t Deutschland Deutschland
Prof. B. Kuhfuß, bime, UniversitĂ€t Bremen Bremen UniversitĂ€t Deutschland Deutschland
Prof. H.-W. Zoch, Prof. B. Clausen, Prof. E. Brinksmeier, IWT, UniversitÀt Bremen Bremen Leibniz-Gemeinschaft Deutschland



Projekte

Projekte (Hyperlink)
Link (extern): https://www.bias.de/optische-messtechnik https://www.bias.de/optische-messtechnik


Bedeutendste Projekte
KĂŒrzel Bezeichnung deutsch Bezeichnung englisch Kooperationspartner Mittelgeber Laufzeit
DeflektAktiv Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung Phase measuring deflectometry with active display registration DFG 2021 - 2023
OPAL: Transfer Optische OberflÀchenerfassung mit rÀumlich und zeitlich partiell kohÀrenten Lichtwellenfeldern, Erkenntnistransfer Optical surface metrology with spatially and temporally partially coherent light wave fields, application transfer Dr. G. Ehret, PTB; Dr. A. Beutler, Mahr GmbH DFG 2021 - 2024
Strukturfunktion II Untersuchung der Strukturfunktion zur Analyse optisch gemessener OberflÀchendaten Investigation of the structure function for analysis of optically measured surface data DFG 2021 - 2023
SPICE II Formmessung mittels optischer Abbildung unter Verwendung von rÀumlich teilkohÀrentem Licht - Teil 2 Shape measurement by means of imaging using partially coherent illumination, part 2 DFG 2021 - 2024
PROFFLUSS Produktionsbegleitende Formerfassung an flĂŒssigkeitsbenetzten MetalloberflĂ€chen VEW - Vereinigte Elektronik WerkstĂ€tten GmbH, Bremen Bremer Aufbau-Bank BAB 2021 - 2022
HoMiTrans Hochauflösende optische Mikroskopie mittels transmissiver Mikrostrukturen Super-resolution optical microscopy using transmissive micro structures DFG 2020 - 2022
HyperCOMet Hyperzentrische Bildgebung in der kohÀrent-optischen Messtechnik Hypercentric imaging in coherent optical metrology DFG 2020 - 2013
LBM-DimQ HochprĂ€zises, dimensionelles Erfassen des schichtweisen Lagenaufbaus beim LBM-Verfahren mit einem neuen PrĂŒfkonzept AiF 2020 - 2022
HoloGen Wellenfront-Formung durch computergenerierte Volumenhologramme fĂŒr optogenetische Anwendungen Wavefront shaping by computer generated volume holograms for optogenetic applications DFG 2020 - 2023
KaSiFo Kamerakalibrierung durch SichtfÀden mit pixelaufgelöster Fokusbestimmung Camera calibration by vision threads with pixel-resolved focus measurement DFG 2019 - 2021
SensATion Erfassung und Analyse von THz-Strahlung auf Basis der rÀumlichen KohÀrenzfunktion Sensing and Analysis of THz Radiation using the Coherence Function Prof. Martin Koch, Phillipps-UniversitÀt Marburg DFG 2019 - 2022
MultiDeflekt Ganzheitliche Multi-Kamera Deflektometrie (MultiDeflekt) Holistic multi-camera deflectometry DFG 2019 - 2021
RELPH II Referenzlose Phasenholographie zur Rekonstruktion vollstÀndiger optischer Wellenfelder in Messtechnik und Bildwiedergabe Referenceless phase holography for reconstruction of complete optical wave fields for metrology and display DFG 2018 - 2020
OPAL II Optische OberflÀchenerfassung mit rÀumlich und zeitlich partiell kohÀrenten Lichtwellenfeldern, Teil 2 Optical surface metrology with spatially and temporally partially coherent light wave fields Dr. G. Ehret, PTB DFG 2018 - 2020
OptiSens Optischer Sensor zur fertigungsbegleitenden QualitĂ€tsprĂŒfung transparenter KunststoffschlĂ€uche SIKORA AG Land Bremen 2017 - 2018
DOTS Entwicklung von PrĂŒfvorschriften und PrĂŒfkörpern zur Qualifizierung der Deflektometrie DFG 2017 - 2020
Sichtstrahl Plus Effiziente, simultane Sichtstrahlkalibrierung und Systemorientierung fĂŒr hochgenaue geometrischoptische 3D-Messsysteme (Sichtstrahl Plus) DFG 2016 - 2019
Strukturfunktion Untersuchung der Strukturfunktion zur Analyse optisch gemessener OberflÀchen DFG 2016 - 2019
MoniKal Hochgenaue deflektometrische Formmessung durch BerĂŒcksichtigung der nichtlinearen Eigenschaften eines Displays als Referenzebene -IPROM- Univ. Braunschweig- DFG 2016 - 2018
Werkzeuglebensdauer 3 SFB 747 Mikrokaltumformen - Prozesse, Charakterisierung, Optimierung
Teilprojekt B03: Erhöhung der Standzeit von Tiefziehwerkzeugen
DFG 2015 - 2018
Sichere Prozesse 3 SFB 747 Mikrokaltumformen - Prozesse, Charakterisierung, Optimierung
Teilprojekt B05: QualitĂ€tsprĂŒfung und logistische QualitĂ€tslenkung mikrotechnischer Fertigungsprozesse
DFG 2015 - 2018
Gamma-Profilometrie Formerfassung auf Basis der differentiellen Messung des zeitlichen KohÀrenzgrades DFG 2015 - 2016
SPICE Ultra-Fast common path White Light Interferometry DFG 2015 - 2018
DOORS Diffraktiv-optische OberflÀchen mit rÀumlich verÀnderlichem Strukturwinkel DFG 2015 - 2018
WiMCam BLADE Wing Measurement Campaign EU 2015 - 2016
RELPH Referenzlose Phasenholographie zur Rekonstruktion vollstĂ€ndiger optischer Wellenfelder in Messtechnik und Bildwiedergabe Referenceless phase holography for reconstruction of complete optical wave fields for metrology and displays Institut fĂŒr Technische Optik, Stuttgart
EEE Departmen, Bilkent University, Ankara
RF Media Lab., Oulu Southern Institute,University Oulu, Finnland
DFG 2014 - 2016
OPAL Optische OberflÀchenmessung mit rÀumlich und zeitlich partiell kohÀrenten Lichtwellenfeldern Optical surface metrology with spatially and temporarily partially coherent light wave fields DFG 2014 - 2017
NanoPat Entwicklung eines Trennprozesses zur Herstellung von ultradĂŒnnen Siliziumsubstraten mittels nichtlinearer optischer Absorption durch Kurzpulsanregung BMWi 2013 - 2014
EMRP-REG EMRP Researcher Grant Contract EU 2013 - 2014
Lambwelle Wechselwirkungsmechanismen lasergenerierter Platten- und Scher-Horizontal-Wellen mit Imperfektionen in faserverstÀrkten Kunststoffen Interaction-mechanisms of laser-generated plate- und shearwaves with imperfections in fibre-reinforced plastics Faserinstitut Bremen e.V. (FIBRE) DFG 2012 - 2014
QualitĂ€tskleben Verbundprojekt: Prozessintegrierte QualitĂ€tssicherungsverfahren fĂŒr die klebetechnische Fertigung von Faserverbundwerkstoffen; Teilvorhaben "Zerstörungsfreie PrĂŒfung von Klebverbindungen mit erweitertem Laserultraschall" Optoprecision GmbH, Bremen
EADS Deutschland GmbH, Ottobrunn
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der Angewandten Forschung e.V.,
FhG-Institut fĂŒr Fertigungstechnik und Angewandte Materialforschung (IFAM), Bremen
BMBF 2011 - 2014
Werkzeuglebensdauer 2 SFB 747 Mikrokaltumformen - Prozesse, Charakterisierung, Optimierung
Teilprojekt B03: Erhöhung der Standzeit von Tiefziehwerkzeugen
DFG 2011 - 2014
Sichere Prozesse 2 SFB 747 Mikrokaltumformen - Prozesse, Charakterisierung, Optimierung
Teilprojekt B05: QualitĂ€tsprĂŒfung und logistische QualitĂ€tslenkung mikrotechnischer Fertigungsprozesse
DFG 2011 - 2014
Dynaholo Dynamische Erzeugung von Lichtwellenfeldern mit Hilfe von Computer-Generierten Volumen-Hologrammen Institut fĂŒr Technische Optik, Stuttgart
Electrical and Electronics Engineering Dept., Bilkent University, Ankara
Dept. of Engineering, University of Aberdeen
DFG 2011 - 2014
WiMo Outer wing metroloy EU 2011 - 2015
MEGaFIT Manufacturing error-free goods at first time EU 2011 - 2014


Mittelgeber der letzten fĂŒnf Jahre (Öffentliche Einrichtungen und Stiftungen)
» UniversitĂ€t Bremen/Zentrale Forschungsförderung
» DFG
» BMBF
» BMWi
» EU (7. RP)
» Andere öffentliche Einrichtungen
» Land Bremen (nicht Grundmittel)


Mittelgeber der letzten fĂŒnf Jahre (Unternehmen)
Firmenname Herkunftsland Laufzeit
Airbus Operations GmbH Deutschland
Astrium GmbH Deutschland
Cosine BV Niederlande
ESO Headquarters Deutschland


Expertise
Branche/Forschungsbereich:
Optische Technologien gehören zu den sog. Enablern, d.h. sie ermöglichen eine Vielzahl kommerziell relevanter Verfahren und Prozesse. GemĂ€ĂŸ dem Leitsatz -Wissen schafft Wirtschaft- arbeiten wir an aktuellen Forschungsthemen, um diese in nutzbringende Innovationen umzusetzen. Unsere Kunden sind u.A. im Bereich Flugzeugbau, Raumfahrt, Schiffbau, Schienenfahrzeug- und Automobilbau, Halbleiter und Opto-Elektronik sowie Mess- und PrĂŒftechnik zu finden.

Schwerpunkt der GeschÀftsaktivitÀten / Forschung (Arbeitsfelder)
- Messsysteme zur Form- und Verformungsmessung
- Zerstörungsfreie PrĂŒfung
- Optoelektronische Systeme
- Optik-Design und Simulation

Forschungs- bzw. Entwicklungsschwerpunkte:
- (In-line) Fertigungs- und QualitÀtsmesstechnik mittels hochgenauer, robuster und schneller 3D-Messtechnik wie z.B. Holographie, Scherographie, Streifenprojektion, Deflektometrie
- Zerstörungsfreie PrĂŒfung und Materialanalyse mit (Laser-)Ultraschall, Röntgen CT und Scherographie
- Entwicklung kompakter, robuster, schneller, hochgenauer und intelligenter Mess-, Sensor- und informationsverarbeitenden Systeme
- Mikro- und nano-optoelektronische Komponenten
- Design und Auslegung optischer und optoelektronischer Systeme
- Prototypenmesssysteme

ZERSTÖRUNGSFREIE PRÜFUNG
Die zerstörungsfreie PrĂŒfung erfolgt am BIAS mit Röntgen, Ultraschall und laserbasierten Methoden und dient der Erforschung und Entwicklung neuer Möglichkeiten zur kontaktlosen MaterialprĂŒfung. Beispiele fĂŒr Dienstleistungsangebote finden sich in den Bereichen Laserultraschall, Röntgen-CT, Scherografie oder Vibrometrie.
FĂŒr die kontaktlose Laser-Ultraschalltechnik ergeben sich vielfĂ€ltige
Anwendungsmöglichkeiten an nahezu beliebigen Werkstoffen. Immer dann, wenn der Einsatz der konventionellen KontaktprĂŒfung eingeschrĂ€nkt oder nicht möglich ist oder der Kundenwunsch sich an einer speziellen Applikation orientiert, kann diese Methode
- kontaktlos und zerstörungsfrei
- an schnell bewegten heißen und kalten Objekten
- und unabhÀngig von der Bauteilgeometrie
Ultraschalldaten fĂŒr die MaterialprĂŒfung und zur Ermittlung von Kennwerten liefern.

RÖNTGEN-COMPUTERTOMOGRAPHIE (RÖNTGEN-CT)
Die Röntgen-CT bietet neue Möglichkeiten sowohl fĂŒr Dienstleistungen als auch fĂŒr die Forschung im Bereich der 3D-Material- und Strukturanalyse sowie Metrologie vor allem fĂŒr Metalle, Halbleiter, Polymere, Keramikwerkstoffe, WerkstoffverbĂŒnde und Verbundwerkstoffe sowie fĂŒr optische oder elektronische Bauelemente und integrierte Schaltungen. AbhĂ€ngig von den zu untersuchenden Proben wird eine Detailerkennbarkeit bis in den Submikrometerbereich erreicht.
FĂŒr den Anwender ergeben sich eine Vielzahl von Möglichkeiten wie
- hochauflösende Messung komplexer 3D-Geometrien,
- Soll-Ist Vergleich z.B. mit CAD-Daten,
- WandstÀrkenmessung,
- Strukturuntersuchung und innere Fehleranalyse,
- Automatisierte 3D Lunker- und Porenanalyse,
- Montagekontrolle und Reverse Engineering.

MIKRO- UND NANO-OPTISCHE KOMPONENTEN
Anwendungen der Mikro- und Nano-Optik reichen von photonischen integrierten Schaltkreisen (PICs) bis zur Sensorik oder Medizintechnik. Dabei sind u.U. StrukturgrĂ¶ĂŸen bis in den Nanometerbereich notwendig. Hierzu stehen am BIAS ein Nanostrukturlabor mit ĂŒber 100 m2 ReinraumflĂ€che und folgende Anlagen zur VerfĂŒgung:
- Nanoscribe Photonic Professional System zur maskenlosen 3D-Strukturierung mittels 2-Photonen-Polymerisation fĂŒr Mikro- und Nano-optische Komponenten wie z.B. DOEs, Wellenleiter oder Koppler.
- SEM/FIB Dual-Beam System mit Elektronenstrahl-Lithographie und Gas Injection System zur OberflÀchencharakterisierung und -manipulation im Mikro- und Nanometerbereich.
- Laser Enabled Nano Ablation (LENA) zur Substrat-modifikation im Materialvolumen von Polymeren, GlÀsern und Halbleitern durch Mehrphotonenabsorption zur Integration mikrooptischer Elemente wie z.B. Wellenleiter oder 3D Volumenhologramme.
- Modular Optical Nano-Analyser (MONA) zur optischen Charakterisierung photonischer Komponenten wie z.B. dem Strahlprofil von Lichtleitern.
- Physikalische Gasphasenabscheidung zur Deposition metallischer und dielektrischer Schichten sowie chemisches TrockenĂ€tzen zur Reinigung, Aktivierung, Ätzung und Beschichtung von Substraten.
- Konfokalmikroskop zur 3D-Erfassung von Höhenprofilen und OberflĂ€chen-Rauheiten gemĂ€ĂŸ ISO 25178 und ISO 4287:1997.

FRINGE PROCESSOR - SOFTWARE FÜR TECHNISCH-WISSENSCHAFTLICHE BILDVERARBEITUNG
Der BIAS Fringe ProcessorTM wurde speziell fĂŒr die wissenschaftliche Bildverarbeitung in der Optischen Messtechnik sowie zur Steuerung optoelektronischer (Mess-) Systeme und der anschließenden automatisierten Auswertung entwickelt. Mit den
zahlreichen Bildbearbeitungsfunktionen wie
- Fourier Transformation (FFT),
- diversen Filtern und
- vielen Spezialfunktionen
lassen sich Bilder interaktiv bearbeiten und auswerten. Entsprechend unserer Forschungsschwerpunkte bieten wir Messsystemmodule fĂŒr folgende Anwendungen an:
- interferometrische Methoden wie Scherografie und Holografie,
- Streifenprojektion, Deflektometrie und
- Laser-Ultraschall (fĂŒr die zerstörungsfreie PrĂŒfung).
Die Software wird in Labor und Industrie eingesetzt, typischerweise als Teil eines kompletten Messsystems, hÀufig mit jeweils projektspezifischen Erweiterungen.
Auch komplexe Messsysteme inkl. anzusteuernder Hardwarekomponenten lassen sich einfach realisieren und flexibel gestalten. Zu den Standardbauteilen gehören
- Kameras,
- Projektoren, Monitore oder rÀumliche Lichtmodulatoren (Spatial Light Modulators, SLMs),
- I/O-Hardware zur Steuerung von Phasenschiebern, Lasern und allgemein Lichtquellen, sowie Faserumschalter,
- Verfahrtische,
- Wellenformgeneratoren und Oszilloskope.
Auch Lasertracker und Industrieroboter werden in vollautomatische Messsysteme integriert.
Das mitgelieferte Software Development Kit (SDK) erlaubt, basierend auf modernem C++, eigene Module und Algorithmen zu realisieren. Wir unterstĂŒtzen Sie bei Ihrer Anwendung oder auch in gemeinsamen Forschungs- oder Entwicklungsprojekten.
Eine Demo-Version ist frei verfĂŒgbar unter www.fringeprocessor.de/downloads.

Ideen fĂŒr mögliche Projekte:
- Problemlösungen fĂŒr die (In-line) QualitĂ€tssicherung mittels hochgenauer, robuster und schneller 3D-Messtechnik und zerstörungsfreier PrĂŒfung
- Optik Design und Simulation fĂŒr refraktive und diffraktive Optiken.





Wissenschaftliche AktivitÀten


Publikationen (Hyperlink)
Link (extern): http://www.bias.de/publikationen-bergmann/ http://www.bias.de/publikationen-bergmann/


Bedeutendste Publikationen
Gamma-profilometry: a new paradigm for precise optical metrology
Art
Autor/enFalldorf, C.; Agour, M.; MĂŒller, A. F.; Bergmann, R. B.
Jahr2021
InOptics Express
Jahrgang2021
Heft29, 22
Seiten36100-36110
Doihttps://doi.org/10.1364/OE.434510
Link zu VolltextLink (extern): https://www.osapublishing.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-29-22-36100&id=461908 https://www.osapublishing.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-29-22-36100&id=461908
Zeitschriftenaufsatz
 
Multicolor holographic display of 3D scenes using referenceless phase holography (RELPH)
Art
Autor/enMĂŒller, A. F.; Rukin, I.; Falldorf, C.; Bergmann, R.B.
Jahr2021
InPhotonics
Jahrgang2021
Heft8
Seiten247
Doihttps://doi.org/10.3390/photonics8070247
Link zu VolltextLink (extern): https://www.mdpi.com/2304-6732/8/7/247 https://www.mdpi.com/2304-6732/8/7/247
Zeitschriftenaufsatz
 
Optical In-Process Measurement: Concepts for precise, fast and robust optical metrology for complex measurement situations
Art
Autor/enR. B. Bergmann; M. Kalms; C. Falldorf
Jahr2021
InApplied Science
Jahrgang2021
Heft11
Seiten10533
Doihttps://doi.org/10.3390/app112210533
Link zu VolltextLink (extern): https://www.mdpi.com/2076-3417/11/22/10533 https://www.mdpi.com/2076-3417/11/22/10533
Zeitschriftenaufsatz
 
Multiple Aperture Shear-Interferometry (MArS): a solution to the aperture problem for the form measurement of aspheric surfaces
Art
Autor/enA. F. MĂŒller; C. Falldorf; M. Lotzgeselle; G. Ehret; R. B. Bergmann
Jahr2020
InOptics Express
Jahrgang2020
Heft28, 23
Seiten34677-34691
Doihttps://doi.org/10.1364/OE.408979
Link zu VolltextLink (extern): https://www.osapublishing.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-28-23-34677&id=442116 https://www.osapublishing.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-28-23-34677&id=442116
Zeitschriftenaufsatz
 
Structure function analysis of powder beds in additive manufacturing by laser beam melting
Art
Autor/enKalms, M.; Bergmann, R. B.
Jahr2020
InAdditive Manufacturing
Jahrgang2020
Heft36
Seiten101396
Doihttps://doi.org/10.1016/j.addma.2020.101396
Link zu VolltextLink (extern): https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2214860420307685 https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2214860420307685
Zeitschriftenaufsatz
 


 

ErstgutachterIn Promotionen
Titel der Dissertation Vorname Name Geschlecht Jahr
Optical efficiency of concentrating solar thermal collectors - Investigation on loss mechanism of reflector concepts Anna Heimsath weiblich 2020
Shearing-Interferometrie mit einer teilkohĂ€renten Multi-Quellen-Beleuchtung zur Formmessung von Optiken Jan-Hendrik Hagemann männlich 2020
Material modifications due to nonlinear effects created by multiphoton absorption in single crystalline silicon Vijay Vittal Parsi Sreenivas männlich 2017
Wafer field synth. and inverse problem in 3D digital holography Edwin N. Kamau männlich 2016
Hochaufgelöste Rekonstruktion von Wellenfeldern aus Messungen mit unbekannter Sensorlage Colin Dankwart männlich 2015
Determination of the complex amplitude of monochromatic light from a set of intensity observations Mostafa Agour männlich 2011

ZweitgutachterIn Promotionen
Titel der Dissertation Vorname Name Geschlecht Jahr Status Bezeichnung Uni
Optical and acoustical microfluidic actuation elements Lukas Brandhoff männlich 2016 Uni Bremen UniversitĂ€t Bremen
Optische Erfassung von Defekten mittels multiskaliger Mess- und Inspektionstechnik Moritz Krauss männlich 2014 andere Universität UniversitĂ€t Hannover
System-Aufstellungen als Instrument zur UnternehmensfĂŒhrung im Rahmen komplexer Entscheidungsprozesse und erste AnsĂ€tze fĂŒr ein naturwissenschafltich begrĂŒndetes ErklĂ€rungsmodell fĂŒr den dahinterligenden Prozess Claas Falldorf männlich 2009 Uni Bremen UniversitĂ€t Bremen


 


Selbst ausgerichtete Tagungen in den letzten fĂŒnf Jahren

Titel Jahr Hyperlink
122. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fĂŒr angewandte Optik (DGaO), Tagungsleitung R. B. Bergmann, 21.-23.09.2021, Bremen 2021 Link (extern): https://dgao.de/jahrestagung/ https://dgao.de/jahrestagung/ 
121. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft fĂŒr angewandte Optik (DGaO), Tagungsleitung R. B. Bergmann, geplant 02.-06.06.2020, Bremen, aufgrund Corona nur Tagungsband 2020 Link (extern): https://dgao.de https://dgao.de 
Frontiers in Optical Metrology“, TOM 6, Chairs: R. B. Bergmann, B. Bodermann, in EOSAM 2020, geplant 7. – 11. 9. 2020 Porto, aufgrund Corona nur online 2020 Link (extern): https://www.europeanoptics.org/events/eos/eosam2020.html https://www.europeanoptics.org/events/eos/eosam2020.html 
Frontiers in optical metrology, im Rahmen des "European Optical Society Biennial Meeting" EOSAM 2018) in Delft, NL 2018 Link (extern): https://www.europeanoptics.org/events/eosam-2018.html https://www.europeanoptics.org/events/eosam-2018.html 
Metrology methods, im Rahmen des "European Optical Society Annual Meeting" (EOSAM 2016) in Berlin 2016 Link (extern): http://www.old.myeos.org/events/eosam2016 http://www.old.myeos.org/events/eosam2016 
Gradient Based Optical Metrology 2015  
Si-Photonics, im Rahmen des "European Optical Society Annual Meeting" (EOSAM 2014) in Berlin 2014 Link (extern): http://www.old.myeos.org/events/eosam2014 http://www.old.myeos.org/events/eosam2014 



Gastwissenschaftleraufenthalte
Name Laufzeit Herkunftsinstitution Herkunftsland
Prof. Dr. Andreas Bill 05.06.2009 UCLB Vereinigte Staaten von Amerika
Prof. Dr. J. Watson 12.-21.06.2012 Univ. of Aberdeen Vereinigtes Königreich von Großbritannien und Nordirland



Ressourcen


Ressourcen
Wir bieten (AusrĂŒstung, Dienstleistungen):
- Akquise von Forschungsmitteln fĂŒr kundenspezifische Aufgaben
- Auftragsforschung und -entwicklung
- Applikations-/ Systementwicklung, z.B. (in-Prozess) Mess- und PrĂŒftechnik incl. automatisierter Datenauswertung
- Mess- und PrĂŒfdienstleistungen, z.B. Form- und Verformungsmessung vom Mikro- bis in den Makro-Bereich, zerstörungsfreie PrĂŒfung, MaterialeigenschaftsprĂŒfung z.B. mit Laserultraschall
- Röntgen-CT
- Optik Design und Simulation
- Herstellung optischer und optoelektronischer Mess- oder Sensor-Systeme nach kundenspezifischen Anforderungen
- Design und Herstellung mikro- und nanooptischer Strukturen und Komponenten
- Prototypenfertigung (Kleinserien in Zusammenarbeit mit entsprechenden Partnern möglich)


 




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